Получен патент по программе для ЭВМ

Получен патент по программе, позволяющей получать информацию о картировании образца в режиме измерений спектров люминесценции и спектров комбинационного рассеяния света. Предлагаемое ПО позволяет изучать спектральные особенности изучаемых образцов в каждой точке образца.